広角Ｘ線回折測定
WAXD (Wide Angle X-ray Diffraction)

概要

物質にＸ線を入射すると、そのＸ線は物質に吸収されたり散乱されたりする。この散乱のうち、入射した１次Ｘ線と散乱した２次Ｘ線の波長が同じものを弾性散乱という。この弾性散乱に着目すると、結晶構造解析に密接な回折現象を見ることができる。
結晶性物質にＸ線を入射すると結晶に固有の回折図形（回折角度と回折強度の相関図）が得られる。この図形を詳細に調べることで結晶の質や量、配列状態の情報が得られる。
結晶性高分子においては、準結晶 (paracrystalline) についての情報を得ることができる。

広角Ｘ線回折測定からわかること

測定例

左図より、当試料はポリエチレン斜方晶系の微結晶を無配向状態で有しており、解析の結果、結晶化度が79%であることがわかる

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