プラスチック製品の表面・界面・微小領域を調べたい

形態観察 (分散、配向、接着接合、多層構造など)、表面局所分析 (表面状態、接着接合、剥離)、
細孔分布測定、深さ方向分析 (ブリード、添加剤、劣化度合いなど)




形態観察 (分散、配向、接着接合、多層構造など)


多成分系プラスチック材料の相分離構造解析 -島相の面積率・円相当径・アスペクト比・重心間距離-

相マップ解析によるSUS種の識別 -電子線マイクロアナライザー(EPMA)-

CFRP積層体の層間せん断試験と断面観察 -熱劣化試験 (Air下) による影響-

X線CTによるCNF配向性分布解析

X線CTによるCNF含有量と分散性解析

医薬品の非破壊解析 -X線CT-

電子線マイクロアナライザー (EPMA) 分析事例

高機能材料・製品中の異物分析 -化学情報・物性情報-

5G対応回路基板と配線界面の解析 -部材から製品まで-

樹脂の組成マッピング QCレーザー ナノIR (高感度、高空間分解能)

多様な可視化技術による総合解析

ラミネート包装容器の各種分析・試験

金属樹脂接合界面近傍の総合解析

金属樹脂接合界面の近傍樹脂の高次構造

異種材料の接合界面解析 -三次元構造解析、元素マッピング-

CNF樹脂中の分散状態解析 / 可視化技術 X線CT、TEM

SEM-EDSによる軽元素 (C, N, O, F) の分布評価 分解能が従来の10倍以上に向上

ナノ薄膜の膜厚、密度、ラフネスの評価 X線反射率法 (XRR法)

ポリマーアロイの相分離構造を観る -nano IR-

三次元TEMによる各種材料の構造解析

有機EL部材の元素マッピング (面分析)

薄膜プライマー層 (レンズ表面コート) の組成解析 -nano IR-

透過型電子顕微鏡 (TEM) によるトナーの微細構造観察

高分子接合界面の元素分布による評価 -低加速SEM-EDS-



表面局所分析 (表面状態、接着接合、剥離)


走査型プローブ顕微鏡

表面粗さ測定

X線光電子分光法 (XPS)

走査型プローブ顕微鏡による不織布繊維の局所表面物性

コーティング処理面における水の滑落性評価 -化学力顕微鏡 (CFM)-

接着性因子と接着力の解析

白色干渉顕微鏡による非接触三次元計測

液中コラーゲンの形状測定および弾性率マッピング -環境制御型走査プローブ顕微鏡-

走査プローブ顕微鏡によるマイクロスケール局所熱分析 -nanoTA-

高機能材料・製品中の異物分析 -化学情報・物性情報-

正極活物質の劣化解析 -SEM、顕微ラマン-

プラズマ処理PPの親疎水性の解析 -表面・深さ方向の分析-

樹脂の組成マッピング QCレーザー ナノIR (高感度、高空間分解能)

樹脂のミクロ物性マッピング SPM

ゴム熱劣化 (硬化) 現象の解析 -DFM硬さマッピング-

多様な可視化技術による総合解析

ポリマーの分子鎖の動きやすさと製品物性 -架橋ポリマー、非架橋ポリマー-

塗装膜の表面不良解析

コーティング処理面の状態解析 -XPSおよびTOF-SIMS-

プラスチック材料の表面機能のSPM解析 密着性、親疎水性、硬さ軟らかさ

金属樹脂接合界面の近傍樹脂の高次構造

リチウムイオン二次電池 正極材の寿命試験前後の比較分析 (TEM-EELS)

XPSによる高分子フィルム表面分析

トナー粒子上ナノサイズ表面処理剤の元素分析 SEM-EDS

パワー半導体素子断面の観察 SEM,高感度EDS

プラスチック中の微小有機物の同定、分散評価 -nano IR-

プラズマ処理PPの表面分析 -X線光電子分光 (XPS)-

プラスチック製品の性能不良解析

ポリマーアロイの相分離構造を観る ダイナミックフォース顕微鏡

ポリマーアロイ各相構造の硬さ等の可視化 温度依存性 -温度可変DFM-

印刷物表面の無機・有機成分と分布分析 -TOF-SIMS-

材料表面の親水性・疎水性評価 -水蒸気吸着法・化学力顕微鏡 (CFM)-

毛髪表面の付着成分分析 -TOF-SIMS-

添加剤の微分散状態評価 -nano IRイメージング-

異種材料の接合界面評価

異種材料の接合界面評価 (2)

表面粗さ測定法

複合材料 (異種材料接合、繊維強化樹脂) の弾性率測定 ・高荷重粘弾性測定 (DMA)・SPM弾性率マッピング

高分子材料の表面劣化総合解析

高分子表面の劣化層厚み評価 ナノインデンテーション法

高感度 (10 倍以上)・高分解能(50 nm) 元素分布評価 -SEM-EDS-



細孔分布測定


5G 基板用フィラーの物性評価 -吸水性および絶縁抵抗試験-

ガス吸着法による比表面積及び細孔分布の測定

比表面積・細孔分布測定装置



深さ方向分析 (ブリード、添加剤、劣化度合いなど)


プラスチック製品の添加剤分析 -表面ブリード分析と深さ分布解析-

プラスチック射出成形品の高次構造と局所物性評価 -顕微鏡観察およびnanoTA-

樹脂添加剤の総合分析

添加剤の総合分析

プラズマ処理PPの親疎水性の解析 -表面・深さ方向の分析-

リチウムイオン二次電池 正極材の寿命試験前後の比較分析 (TEM-EELS)

プラスチック製品の表面、深さ方向の微量成分分析 -GC-IB併用TOF-SIMS-

プラズマ処理ポリプロピレンの深さ方向分析 GC-IB併用 TOF-SIMS

食品用多層フィルムの層構成、添加剤深さ方向分布 -GC-IB併用TOF-SIMS-




  •  分析メニュー・事例




お問合せ

《CONTACT》

分析についてのご相談などお気軽にお問合せください。
弊社担当営業よりご案内させて頂きます。
WEBからのお問合せはこちらから。


東日本営業グループ
TEL.03-6880-7695 FAX.03-6880-7696

〒104-0028  東京都中央区八重洲2-2-1 東京ミッドタウン八重洲  
八重洲セントラルタワー 17階


東海営業グループ
TEL.052-587-3617 FAX.052-587-3618

〒450-0003  愛知県名古屋市中村区名駅南1-24-30
(名古屋三井ビル本館)


西日本営業グループ
TEL.06-6446-2960 FAX.06-6446-2970

〒550-0004  大阪府大阪市西区靭本町1-11-7
(信濃橋三井ビル)


西日本営業グループ(岩国営業チーム)
TEL.0827-53-9190 FAX.0827-53-8894

〒740-0061  山口県玖珂郡和木町和木6-1-2


Copyright © MITSUI CHEMICAL ANALYSIS & CONSULTING SERVICE, INC. All Rights Reserved.