TOF-SIMS分析では、材料表面に存在する成分の種類や分布を確認することができる。 印字された紙表面をTOF-SIMS分析した。紙 (セルロース) やトナー由来のイオンが検出され、それぞれの成分の広範囲 (数 mm 角程度) なマッピング測定が可能である。 印刷不良などの原因解析に役立てることが出来る。
印刷された紙
(1) 紙表面の正二次イオン質量スペクトル
(2) 紙表面の二次イオン像
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