プラズマ処理PPの表面分析
ーX線光電子分光(XPS)－

概要


X線光電子分光法 (XPS) は、材料の最表面数nm領域の官能基を高感度分析できる。表面処理によって生成した官能基などの評価に有効である。



プラズマ処理PPの表面XPS分析事例


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図1　プラズマ処理後の表面O、N濃度

プラズマ処理時間に対応して、PP表面のO、N濃度が増加することがわかる
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図2　プラズマ処理後のXPS-C1sスペクトルとピーク分離結果 (120 sec後)

プラズマ処理時間に対応して、C1sスペクトルのピーク分離によって、表面にC-OH(C-O-C)、C=O、COOH(COO)等の官能基が生成していることがわかる


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