広角Ｘ線回折による高分子の配向度測定

概要

高分子の微結晶が選択配向している場合に、広角Ｘ線回折像を調べると回折線が弧状（高強度時はスポット）になる。
特定の回折面に対し回折強度を円環積分すると方位角度（β角度）－強度分布を曲線として表すことができる。
これを方位角分布曲線と呼び、この曲線におけるピークを配向性ピークとしてその強さ（鋭さ）を相対的に評価することで配向度を解析することができる。

配向度 F = (180 - W_h) / 180

W_h は配向性ピーク半値幅（ピークの半分の高さのピーク幅）平均

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