Ｘ線回折法による高分子の結晶化度測定

概要

結晶性高分子の結晶化度は、物性一般に深く関わる構造パラメータであり、結晶化度を評価することで剛性不足や割れ・白化等の原因を特定できることがある。
結晶化度の測定方法には、密度法・熱分析法・NMR法・IR法などがある。
ここでは、1mmφ程度の微小部を固体状態のまま測定可能なX線回折法による結晶化度測定について解説する。

広角X線回析法による測定例

X線回折法では試料にＸ線を照射し、得られる回折情報（広角Ｘ線回折図形または広角Ｘ線回折プロファイル）から、非晶に由来する散乱領域と結晶に由来する散乱領域とを分け、全散乱強度に対する結晶散乱強度の比として計算する。

広角Ｘ線回折法による測定例

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