小角Ｘ線散乱測定
SAXS (Small Angle X-ray Scattering)

概要

物質にＸ線を入射すると、１次Ｘ線は物質に吸収されたり散乱されたりする。
物質内に 10 ～ 1000 Å (1 ～ 100 nm ) 程度の微細な粒子やこれに相当する大きさで密度（電子密度）の不均一な領域があると、Ｘ線の入射線方向に散漫な散乱（中心散漫散乱）を生じる。この中心散漫散乱は粒子の内部構造には無関係で粒子が小さいほどひろがる。
この中心散漫散乱から、密度不均一な部分の周期性（＝長周期）やその大きさ・分布などを調べることができる。
結晶性高分子の固体においては、結晶部と非晶部との繰返し周期を長周期として評価することが多い。

測定例

高分子成形品　小角X線散乱図形の例

左図より、当試料は長周期の異方性を有しており、解析の結果、平均長周期が27nm程度であることがわかる

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