Ｘ線回折法による微小試料、微量成分の分析

概要

試料にX線を照射して得られる回折パターンを解析することで、試料中に含まれる結晶物質とその結晶構造がわかる。

分析例　微小異物の分析

0.4 mmφ に集光した高輝度X線で測定できる弊社装置なら、
一般的な装置では不可能な微小試料・部位の分析 ( ＞100 μm) が可能

フィルム中に酸化チタン TiO₂ のルチル型^※が異物として混入していることがわかった

分析例 微量成分の分析

高輝度X線、高感度検出器により高S/Nな測定ができる弊社装置なら、
一般的な装置では不可能な希薄な成分 ( ＞ 0.1 wt% ) の分析が可能

※酸化チタン TiO₂ にはルチル型、アナターゼ型、ブルッカイト型の結晶多形がある