透過型電子顕微鏡 TEM
Transmission Electron Microscope

原理・特徴


光学顕微鏡に於ける光と光学レンズの代わりに、電子線と電子レンズ（磁界レンズ）を用いて、蛍光板（フィルム）に試料の拡大像を結像し、物質の形状及び内部構造を観察・撮影する装置。又、電子線回折により結晶性試料の結晶構造を評価できる。



仕様


  JEM-100CX H-7000
加速電圧 20 ～ 100 kV 25 ～ 125 kV
倍率 ×100 ～ 800,000 ×50 ～ 600,000
線分解能 0.140 nm 0.204 nm
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