ナノコンポジット材料の評価
-X線解析、電子顕微鏡-

概要


ナノコンポジット材料は、自動車、航空機等の軽量化目的のための材料として注目されている。
材料特性を決める重要因子であるナノレベルのフィラーの分散状態は、X線解析、電子顕微鏡により評価できる。



サンプル例 ： ナノフィラー / ポリマー系複合材料


●分析例１　X線解析：小角X線散乱測定(SAXS)
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小角X線散乱測定 (SAXS) より、
サンプル全体のナノレベルの情報を解析・評価することができる。

【サンプル (A)】
100 nm 以下のサイズに対応する
X線強度が強い
⇒ナノフィラーが 100 nm 以下のナノレベルに微分散 (ナノコンポジット材料)

【サンプル (B)】
数百 nm レベルのサイズに対応する
強度が強い
⇒　フィラーが、数百 nm レベルで分散



●分析例2　電子顕微鏡：透過型電子顕微鏡（TEM）
mcanac
サンプル(A)：ナノフィラー (黒色) が 100 nm 以下のレベルでポリマー中に微分散
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サンプル(B)：ナノフィラーがフィラー塊として数百 nm レベルでポリマー中に分散

透過型電子顕微鏡により、ナノフィラーの分散状態を観察することができる


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