光学顕微鏡における光と光学レンズの代わりに、電子線と磁界レンズを用いて、蛍光板 (カメラ) に試料の拡大像を結像し、物質の形状および内部構造を観察・撮影する装置。光学顕微鏡よりも極めて高倍率での観察が可能である。
TEM では電子線を透過させるため、試料を極薄くする必要がある (約 0.1 μm 以下)。また、プラスチック材料では像のコントラストを強調するため、選択的な染色を施す場合がある。 当社では、長年の知見・経験から、試料に最適な前処理装置、前処理方法で超薄切片を作製し高品位な TEM 観察像を提供している。
など
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