透過電子顕微鏡 (TEM)
Transmission Electron Microscope

概要


光学顕微鏡における光と光学レンズの代わりに、電子線と磁界レンズを用いて、蛍光板 (カメラ) に試料の拡大像を結像し、物質の形状および内部構造を観察・撮影する装置。光学顕微鏡よりも極めて高倍率での観察が可能である。



検体の作製


TEM では電子線を透過させるため、試料を極薄くする必要がある (約 0.1 μm 以下)。また、プラスチック材料では像のコントラストを強調するため、選択的な染色を施す場合がある。
当社では、長年の知見・経験から、試料に最適な前処理装置、前処理方法で超薄切片を作製し高品位な TEM 観察像を提供している。


得られる情報


  • 結晶性プラスチックの構造観察
    • 球晶、ラメラ構造など
  • 多成分系プラスチック材料のモルフォロジー観察
    • 相分離（海島）構造
  • プラスチック複合材料の形態・状態観察
    • 各種フィラー・微粒子の形態・分散状態、界面接合状態
  • 無機材料の結晶構造・欠陥解析
    • 電子回折像、結晶格子像、原子配列観察　

など


mcanac

＜観察例＞
mcanac
ポリエチレンのラメラ構造
mcanac
ABS樹脂＊ の海島構造
* アクリロニトリル・ブタジエン・
  スチレン共重合樹脂
mcanac
金属 - 樹脂界面構造


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