比誘電率(εr)・誘電正接(tanδ)の測定
-110 Hz ～ 1 MHz 段階的-

概要


フィルム・シート・ボトル製品や家電製品などに使用する絶縁材料の開発において、電気的性質の一つである誘電特性（誘電率、誘電正接）を調べることがさかんに行われている。これらはLCRメーターにて、静電容量 C やコンダクタンス G 等を測定し、下表のような計算式により求められる。

測定方式：自動平衡ブリッジ法（LCRメーター）による３端子測定法
関連規格：ASTM D150，JIS Ｋ6911，JIS Ｋ6922-2



３端子測定法と計算式


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試験形状・試験条件


シート 形 状
測定温度範囲		 約 50 mm□　以上、厚さ　約 0.02 ～ 3 mmt 程度（目安）
-20 ～ 200 ℃　※試料に適した電極形成も行います
液　体 液 量
測定温度範囲		 10 ml 以上
室温 ～ 100 ℃　※試料によって受けられない場合もあります
粉　体 金属セルに充填した状態でプレス加重に対する誘電率・誘電正接を測定します



関連技術紹介



●比誘電率 (εr)・誘電正接 (tanδ) の測定 (マイクロ波帯 / GHz帯)



検索番号：6g004



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