絶縁体中の空隙の非破壊検査 (1)
部分放電試験 / V-Q (電圧-電荷) 試験 (Partial Dischage Test)

概要


絶縁材料中に空隙 (ボイド) があると、その部分に電界が集中し、微弱な放電が発生する。これを部分放電とよび、この時の電荷の移動 (電荷量) を検出し、材料中の欠陥を非破壊で評価できる。
部分放電開始電圧の大小でボイドの程度を評価できる。


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サンプルA は、電圧を 3700 V、サンプルB は電圧を 3000 V までそれぞれ昇圧させた試験で、部分放電をそれぞれ検出した
サンプルB は サンプルA よりも部分放電開始電圧が低くボイドの程度が悪いことがわかる


試験条件例


試験規格 IEC60664 、JEC-0401 等 最高電圧 5000 V　　　
試験環境 23 ±2 ℃ / 50 ±5 %RH 周波数 50 Hz
試料 絶縁材料、絶縁シート、太陽電池のバックシート 等
その他 貴社のご希望の試験条件があれば、対応致します。お気軽にお問い合わせ下さい。



検索番号：6g012



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