絶縁体中の空隙の非破壊検査 (2)
部分放電試験 / Q-T (電荷-時間) 試験 (Partial Dischage Test)

概要

IEC 60664-1 に準拠した試験では、電圧を一定時間保持した際の電荷量の測定を行う。
本試験により、試料内部の空隙 (ボイド) の状態を簡便に検査できる評価方法である。

評価　空隙（ボイド）の観察

測定例　部分放電試験による良品・不良品の比較

Q-T試験にて不良品PPの電荷量が増大しているのに対し良品PPは増大していない非破壊で材料内部の欠陥を調べることができる

※複数のボイド等の電荷量を試験するものであり、特定のボイド単体の電荷量を試験するものではないので、ご注意下さい

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