円柱状試験片に一定の圧縮ひずみを与え、規定の温度・時間放置後、試験片を開放し、圧縮前後の試験片の厚さから圧縮永久ひずみを求める
C S : 圧縮永久ひずみ (%) t 0 : 試験片の元の厚さ (mm) t 1 : スペーサーの厚さ (mm) t 2 : 圧縮装置から取り外して30分後の試験片の厚さ (mm)
圧縮治具
●低温衝撃ぜい化試験 低温で試験片に衝撃曲げ変形を与え、試験片に生じる破壊の有無から、衝撃ぜい化温度を求める
●低温ねじり試験（ゲーマンねじり剛性試験） 凍結温度から室温までの温度範囲に渡って試験片をねじり、そのねじり角度から低温特性を求める
引張試験、引裂き試験、硬さ試験（デュロメータ硬さ）、反発弾性試験、剥離試験、老化試験、浸漬試験、屈曲き裂試験、摩耗試験（テーバー摩耗）、耐候性試験（カーボンアーク、キセノンアーク）、密度測定、絶縁抵抗試験
検索番号：6l001
〒104-0028 東京都中央区八重洲2-2-1 東京ミッドタウン八重洲 八重洲セントラルタワー 17階
〒450-0003 愛知県名古屋市中村区名駅南1-24-30（名古屋三井ビル本館）
〒550-0004 大阪府大阪市西区靭本町1-11-7（信濃橋三井ビル）
〒740-0061 山口県玖珂郡和木町和木6-1-2
▶ホーム
▶プライバシーポリシー
Copyright © MITSUI CHEMICAL ANALYSIS & CONSULTING SERVICE, INC. All Rights Reserved.