PV出力低下に対する要因解析

概要


(株)三井化学分析センターは、PVモジュールの分析を通じて、高信頼性化と再生可能エネルギーの普及促進に貢献する。



PVモジュール出力低下の主な要因解析


症状 一次要因 特性評価
による原因推定		 原因 分析内容と方法
PVモジュールの
出力低下		 回路
抵抗大		 電極抵抗大 I-V特性、EL
サーモグラフィ		 電極腐食 ・反応物生成 ・電極形態
観察
・元素分析		 SEM、TEM観察
EDX、XPS
接触抵抗大 I-V特性、EL
サーモグラフィ		 接触不良 ・電極剥離、
切断		 ・断面観察 断面SEM観察
もれ
電流		 絶縁抵抗小 I-V特性、EL 封止材
抵抗小		 ・金属イオン
マイグレーション		 ・抵抗率測定
・封止材元素分析		 体積抵抗率
XPS、SIMS、
EDX
PN接合劣化 I-V特性、EL 整流性の
低下
(導体化)		 ・Naイオン等拡散 ・セル元素
分析		 XPS、SIMS
セル
受光量
低下		 封止材
透過度小		 I-V特性、EL 封止材変色 ・不適正な
添加剤量
（消費など）
・封止材劣化
・封止材
二重結合生成		 ・分光分析
・添加剤定性
・定量分析
・官能基の分析
・C結合状態分析
・水、酢酸定量		 IR、透過
スペクトル、
GC、HPLC、
ESR、
IR、
ESR、IR、
KF、IC
セル
到達光量
低下		 I-V特性、EL 界面異常
(剥離、
密着性低下)
ガラス、
封止材、
セル界面		 ・空隙と凸凹
による錯乱
・封止材硬化
・封止材架橋の進行
・封止材表面変質
・封止材表面付着物
・AR膜表面劣化		 ・剥離界面観察
・分子量、架橋度
・架橋度
・表面官能基
・付着物分析
・化合物同定		 断面SEM、GPC、
粘弾性、
IR、
IR、XRF、
XPS
ガラス
透過度小		 I-V特性、EL ガラス表面
汚れ、ガラス変質		      


PVモジュールの構造


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関連技術紹介



●PV特性評価・分析の概要

●PV分析事例 (2) 白濁部分の断面観察



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