リチウムイオン二次電池
添加剤 (LiFSI) の構造解析とSEI層解析への応用
-XPS、TOF-SIMS-

概要

リチウムイオン二次電池のサイクル特性、レート特性、保存特性、安全性の向上は電極上に形成されるSEIの状態にも左右される。この被膜を分析するツールとしては各種表面分析装置（XPS、TOF-SIMS等）が有効である。基礎情報として添加剤自体の構造解析を行うことで、実セル中の電極上SEI状態解析に役立てる。

試料

添加剤自体を測定し、データベース化することで、SEI中の添加剤の状態解析に活用

XPS (S2pおよびF1s)

各元素に対するピーク波形解析により結合エネルギー情報が得られる
表面から 5nm 程度の情報・検出下限 0.1atom%

TOF-SIMS (負二次イオン質量スペクトル)

イオンもしくはフラグメントとして高次の情報が得られるので、分子構造が直接捉えられる可能性がある
・表面から 1～2nm 程度の情報　・検出下限　数十ppm　・マッピング機能

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