セル |
解体 |
構造 |
X 線 CT |
構成 |
各部材、電極構造採寸 |
周辺部材 |
耐電解液耐性 |
浸漬試験 |
電極 |
活物質 |
元素組成比 |
高周波プラズマ発光分析 (ICP-AES)、蛍光 X 線 (XRF) |
結晶構造 |
ラマン分光、X 線回折 (XRD)、透過電子顕微鏡 (TEM) |
形態観察 |
透過電子顕微鏡 (TEM)、走査電子顕微鏡 (SEM) |
状態分析 |
X 線光電子分光 (XPS)、透過電子顕微鏡電子エネルギー損失分光 (TEM-EELS)、 電子スピン共鳴 (ESR)、X 線吸収微細構造 (XAFS) |
SEI分析 |
X 線電子分光 (XPS)、高感度EDS、飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS)、 液体クロマトグラフ・タンデム型質量分析 (LC-MS/MS)、核磁気共鳴 (NMR) |
物性 |
電解液との親和性 (パルスNMR)、比表面積、細孔分布、表面電気抵抗 (SSRM) |
バインダー |
分布 |
走査電子顕微鏡 (SEM) |
定性、添加量 |
熱分解 GC-MS、熱重量示差熱分析 (TG-DTA) |
電動助剤 |
結晶性、分布 |
ラマン分光 |
スラリー |
分散性 |
パルスNMR、動的画像処理法 |
セパレータ |
形態観察 |
走査電子顕微鏡 (SEM)、原子間力顕微鏡 (AFM) |
組成 |
フーリエ変換型赤外分光 (FT-IR)、示差走査熱量計 (DSC) (融点測定) |
物性 |
比表面積、透気度 |
電解液 |
組成 (定性、定量) |
核磁気共鳴 (NMR)、ガスクロマトグラフ質量分析 (GC-MS)、 ガスクロマトグラフ (GC)、イオンクロマトグラフ (IC) |
添加剤などの微量分析 |
ガスクロマトグラフ (GC)、ガスクロマトグラフ質量分析 (GS-MS) |
電解質などのイオン成分 |
イオンクロマトグラフ (IC)、核磁気共鳴 (NMR) |
変性成分 |
核磁気共鳴 (NMR)、ガスクロマトグラフ質量分析 (GC-MS)、 液体クロマトグラフ・タンデム型質量分析(LC-MS/MS) |
電極溶出無機成分 |
誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)、誘導結合プラズマ質量分析 (ICP-MS) |
発生ガス |
ガスクロマトグラフ・バリア放電イオン化検出器 (GC-BID) |
物性 |
引火点 (消防法分類判定)、発火点 |