表面界面ナノサイズ分析

形態観察

CFRP積層体の層間せん断試験と断面観察 -熱劣化試験 (Air下) による影響-

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X線CTによるCNF配向性分布解析

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X線CTによるCNF含有量と分散性解析

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医薬品の非破壊解析 -X線CT-

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電子線マイクロアナライザー (EPMA) 分析事例

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高機能材料・製品中の異物分析 -化学情報・物性情報-

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5G対応回路基板と配線界面の解析 -部材から製品まで-

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樹脂の組成マッピング QCレーザー ナノIR (高感度、高空間分解能)

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多様な可視化技術による総合解析

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ラミネート包装容器の各種分析・試験

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金属樹脂接合界面近傍の総合解析

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金属樹脂接合界面の近傍樹脂の高次構造

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異種材料の接合界面解析 -三次元構造解析、元素マッピング-

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CNF樹脂中分散状態解析 X線CT、TEM

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SEM-EDSによる軽元素 (C, N, O, F) の分布評価 分解能が従来の10倍以上に向上

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ナノ薄膜の膜厚、密度、ラフネスの評価 X線反射率法 (XRR法)

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ポリマーアロイの相分離構造を観る -nano IR-

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三次元TEMによる各種材料の構造解析

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有機EL部材の元素マッピング (面分析)

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水溶性樹脂のTEM観察技術

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薄膜プライマー層 (レンズ表面コート) の組成解析 -nano IR-

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透過型電子顕微鏡 (TEM) によるトナーの微細構造観察

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高分子接合界面の元素分布による評価 -低加速SEM-EDS-

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FIB-TEMによる低誘電率材料 / 銅配線の微細構造観察

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表面局所分析

走査型プローブ顕微鏡による不織布繊維の局所表面物性

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コーティング処理面における水の滑落性評価 -化学力顕微鏡(CFM)-

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接着性因子と接着力の解析

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白色干渉顕微鏡による非接触三次元計測

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液中コラーゲンの形状測定および弾性率マッピング -環境制御型走査プローブ顕微鏡-

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走査プローブ顕微鏡によるマイクロスケール局所熱分析 -nanoTA-

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高機能材料・製品中の異物分析 -化学情報・物性情報-

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正極活物質の劣化解析 -SEM、顕微ラマン-

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プラズマ処理PPの親疎水性の解析 -表面・深さ方向の分析-

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樹脂の組成マッピング QCレーザー ナノIR (高感度、高空間分解能)

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樹脂のミクロ物性マッピング SPM

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ゴム熱劣化 (硬化) 現象の解析 -DFM硬さマッピング-

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多様な可視化技術による総合解析

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ポリマーの分子鎖の動きやすさと製品物性 -架橋ポリマー、非架橋ポリマー-

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塗装膜の表面不良解析

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コーティング処理面の状態解析 -XPSおよびTOF-SIMS-

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プラスチック材料の表面機能のSPM解析 密着性、親疎水性、硬さ軟らかさ

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金属樹脂接合界面の近傍樹脂の高次構造

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LiB 正極材の寿命試験前後の比較分析 (TEM-EELS)

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SPMを用いた高分子材料表面の物性評価

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XPSによる高分子フィルム表面分析

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トナー粒子上ナノサイズ表面処理剤の元素分析 SEM-EDS

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パワー半導体素子断面の観察 SEM,高感度EDS

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プラスチック中の微小有機物の同定、分散評価 -nano IR-

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プラズマ処理PPの表面分析 -X線光電子分光 (XPS)-

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プラスチック製品の性能不良解析

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ポリマーアロイの相分離構造を観る ダイナミックフォース顕微鏡

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ポリマーアロイ各相構造の硬さ等の可視化 温度依存性 -温度可変DFM-

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印刷物表面の無機・有機成分と分布分析 -TOF-SIMS-

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原子間力顕微鏡による液晶素子の形態観察

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材料表面の親水性・疎水性評価 -水蒸気吸着法・化学力顕微鏡 (CFM)-

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毛髪表面の付着成分分析 -TOF-SIMS-

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添加剤の微分散状態評価 -nano IRイメージング-

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異種材料の接合界面評価

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異種材料の接合界面評価 (2)

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表面物性でお困りの方に…SPMを用いた表面物性評価技術の紹介

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表面粗さ測定法

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複合材料 (異種材料接合、繊維強化樹脂) の弾性率測定 ・高荷重粘弾性測定 (DMA)・SPM弾性率マッピング

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高分子材料の表面劣化総合解析

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高分子表面の劣化層厚み評価 ナノインデンテーション法

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高感度 (10 倍以上)・高分解能(50 nm) 元素分布評価 -SEM-EDS-

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X線光電子分光装置：XPS

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細孔分布測定

5G 基板用フィラーの物性評価 -吸水性および絶縁抵抗試験-

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ガス吸着法による比表面積及び細孔分布の測定

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比表面積・細孔分布測定装置（改定）

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深さ方向分析

プラスチック製品の添加剤分析 -表面ブリード分析と深さ分布解析-

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プラスチック射出成形品の高次構造と局所物性評価 -顕微鏡観察およびnanoTA-

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樹脂添加剤の総合分析

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添加剤の総合分析

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プラズマ処理PPの親疎水性の解析 -表面・深さ方向の分析-

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LiB 正極材の寿命試験前後の比較分析 (TEM-EELS)

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プラスチック製品の表面、深さ方向の微量成分分析 -GC-IB併用TOF-SIMS-

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プラズマ処理ポリプロピレンの深さ方向分析 GC-IB併用 TOF-SIMS

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有機薄膜、高分子積層フィルム中の微量成分深さ方向分析 TOF-SIMS & GCIB

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食品用多層フィルムの層構成、添加剤深さ方向分布 -GC-IB併用TOF-SIMS-

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