複合成形体

ウェハ、半導体基板・配線・絶縁膜、ＩＣ、プリント基板

高機能材料・製品中の異物分析 -化学情報・物性情報-

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5G対応回路基板と配線界面の解析 -部材から製品まで-

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5G製品 (高周波対応) の分析物性評価 -部材から製品まで-

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5G スマートフォンのフレキシブルプリント基板分析 -断面観察および層構成解析-

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5G スマートフォンのプリント基板分析 -断面観察-

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プリント配線基板上の金パッド表面の変色原因解析

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WEEE & RoHS規制対応分析 鉛フリーはんだ及びめっき中の有害金属の分析

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シリコン基板上ポリシリコン膜の金属汚染分析

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ナノ薄膜の膜厚、密度、ラフネスの評価 X線反射率法 (XRR法)

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パワー半導体向け封止材の評価

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基板表面のイオン成分分析

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多層膜の金属汚染分析

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多層膜の金属汚染分析の前処理

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太陽電池用シリコンの不純物分析

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微小硬度計による基板の局所硬度測定

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走査型オージェ電子分光装置

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走査型レーザー顕微鏡

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顕微赤外分光光度計：顕微IR

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FIB-TEMによる低誘電率材料/銅配線の微細構造観察

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ICチップの断面観察 (携帯電話の例)

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ICP-MS法による基板表面の金属汚染の分析

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TDS-MSによる半導体の分析 (1)

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正極、負極、セパレーター（リチウム関係など）

黒鉛粉末と電解液との親和性評価 PART.2

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黒鉛粉末と電解液との親和性評価 PART.1

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リチウムイオン二次電池 電極バインダー構造解析、物性測定

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リチウムイオン二次電池 セパレータ構造解析

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電極スラリーの塗工特性評価

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LiB負極スラリーの粒子分散性評価

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電極スラリーの分散性、塗工特性評価技術

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燃料電池の部材分析 セパレータ / ガス拡散層 / 撥水層 / 電極(触媒層) / 電解質膜

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リチウムイオン二次電池 分析・試験方法総合一覧

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リチウムイオン二次電池 セパレータの各種カスタマイズ試験

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負極のLi金属析出・Li塩分解物分析 -高感度EDS、固体高分解能Li-NMR-

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正極活物質の劣化解析 -SEM、顕微ラマン-

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リチウムイオン二次電池 正極劣化解析

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正極のバインダー分布・組成評価 -SEM高感度EDS、熱分解GC/MS-

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二次電池の内部観察 - X線CT法 (大型試料仕様) ‐

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リチウムイオン二次電池 セル解体による部材トータルキャラクタリゼーション

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リチウムイオン二次電池 バインダー乾燥条件に対する分散性評価 -高感度SEM-

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リチウムイオン二次電池 電極断面観察 -SEM-

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リチウムイオン二次電池 低温サイクル試験後の負極分析 -表面SEM観察と高感度EDSによるLi測定-

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リチウムイオン二次電池 セパレータの各種物性試験

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黒鉛と電解液の親和性評価 -パルスNMR、ガス吸着法-

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LiB 正極活物質表面の価数分析 -EELS多変量解析-

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LiB セパレータの評価

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LiB セパレータ分析

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LiB バインダー、導電助剤の分析

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LiB 正極のバインダー評価

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LiB 活物質・劣化物、導電助剤の同定と分布評価 -顕微ラマン-

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LiB 膨れ試験と発生ガス定量分析 (GC-BID)

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LiB 負極活物質材料の構造解析 (XRD)

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LiB 電極活物質の抵抗分布評価 (SSRM)

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LiB 電極表面の劣化解析

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LiB 電極観察

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LiB 正極材の寿命試験前後の比較分析

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LiB 負極のリチウムの状態解析

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LiB 負極材のTOF-SIMSによる表面解析

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LiB 負極材の大気非暴露SEM観察

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LiB 負極材の大気非暴露XPS測定

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LiB 電極のバインダ樹脂の解析

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LiB セパレータの寿命試験前後の比較分析

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LiB 部材分析・劣化解析 (コンセプトパネル)

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LiB 負極バインダーの分布評価 -SEM - 高感度EDS-

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SEM-EDSによる軽元素 (C, N, O, F) の分布評価 分解能が従来の10倍以上に向上

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リチウムイオン二次電池 SEI層中の添加剤解析 -LC/MS/MS-

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リチウムイオン二次電池 セパレータの断面観察 クライオイオンミリング

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リチウムイオン二次電池 保存試験による添加剤効果の確認 -SEM - 高感度EDS-

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リチウムイオン二次電池 充放電状態の活物質結晶構造解析 -X線回折(XRD)-

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リチウムイオン二次電池 正極の抵抗分布測定 -走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)-

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リチウムイオン二次電池 正極活物質表面の金属価数分析 -STEM-EELS-

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リチウムイオン二次電池 添加剤 (LIFSI) の構造解析とSEI層解析への応用 -XPS、TOF-SIMS-

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リチウムイオン二次電池 電極中のLiおよびLi化合物の定性定量分析

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リチウムイオン二次電池 負極表面の劣化解析 TOF-SIMS

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リチウムイオン二次電池 Li金属の可視化 -SEM - 高感度EDS-

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ディスプレイ、電極、多層・蒸着フィルム、トナー

コーティング処理面の状態解析 -XPSおよびTOF-SIMS-

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AQUATRANによる水蒸気透過度測定

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トナー粒子上ナノサイズ表面処理剤の元素分析 SEM-EDS

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ナノ薄膜の膜厚、密度、ラフネスの評価 X線反射率法 (XRR法)

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パワー半導体素子断面の観察 -SEM、高感度EDS-

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フィルムの熱伝導率測定 -定常法熱流計法-

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プラスチック製品の表面、深さ方向の微量成分分析 -GC-IB併用TOF-SIMS-

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ポリマーの気体透過率測定

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マイクロサンプリング法による多層フィルムの層構成の分析

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レーザー回折・散乱法による微粒子の粒度分布測定

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二次電池の内部観察 -X線CT法(大型試料仕様)-

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有機薄膜、高分子積層フィルム中の微量成分深さ方向分析 -TOF-SIMS & GCIB-

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絶縁体中の空隙の非破壊検査 (1)

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透過型電子顕微鏡(TEM)によるトナーの微細構造観察

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食品用多層フィルムの層構成、添加剤深さ方向分布 -GC-IB併用TOF-SIMS-

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スマホディスプレイ 多層フィルムの構造解析

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スマホディスプレイの断面観察 (SEM)

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金属樹脂複合材料

接着性因子と接着力の解析

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プラスチック製品の性能不良解析

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金属樹脂接合界面近傍の総合解析

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金属樹脂接合界面の近傍樹脂の高次構造

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異種材料の接合界面解析 -三次元構造解析、元素マッピング-

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ナノインデンテーションによる表面ヤング率の測定

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三次元形態観察と画像解析 -3D-TEM、3D-SEM、X線CT-

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異種材料の接合界面評価 (2)

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電極部の断面観察 (携帯電話の入力キー)

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スマートフォンディスプレイ タッチパネル電極の断面観察

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